集成電路測試儀產品簡介
·器件好壞判別：當不知被測器件的好壞時，儀器可判別其邏輯功能好壞。
·器件型號識別：當不知被測器件的型號時，儀器可依據其邏輯功能來判斷其型號。
·器件老化測試：當懷疑被測器件的穩定性時，儀器可對其進行連續老化測試。
·器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號。
·內部RAM緩沖區修改：儀器可對內部緩沖區進行多種編輯。
·微機通訊：儀器可通過串行口接受來自微機的數據或將內部RAM緩沖區的數據傳送到微機。
·ROM器件讀入：儀器可將128K以內的ROM器件內的數據讀入并保存。
·ROM器件寫入：儀器可將內部緩沖區的數據寫入到128K以內的ROM器件中。
集成電路測試儀適用范圍
·維修各類電子產品，判斷其集成電路故障。
·破譯被抹去型號集成電路的真實型號。
·燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機片內ROM。
·開發各類智能電子產品，調試程序。
·檢驗新購器件的質量。
集成電路測試儀可測器件種類
·TTL74、54系列。
·TTL75、55系列。
·CMOS40、45、14系列。
·單片機系列。
·EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
·光耦合器，數碼管系列。
·常用微機外圍電路系列。
·其它常用電路及用戶提供系列。
·運算放大器系列（單運放、雙運放、四運放）。
·三端穩壓器系列（78XX，79XX，317，337）。
