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　　西克黑科技

　　SICK NOVA 是一款面向工業(yè)圖像處理的可配置軟件平臺(tái)，廣泛適用于多行業(yè)的質(zhì)量檢測(cè)與自動(dòng)化應(yīng)用。憑借直觀的網(wǎng)頁(yè)界面與強(qiáng)大的 AI 能力，無(wú)論是經(jīng)驗(yàn)豐富的視覺(jué)工程師，還是初次接觸機(jī)器視覺(jué)的用戶，都能快速部署復(fù)雜檢測(cè)任務(wù)。它兼容多種視覺(jué)硬件，包括 2D 視覺(jué)傳感器、3D 視覺(jué)傳感器以及激光掃描儀，并支持通過(guò)插件靈活擴(kuò)展功能，為企業(yè)提供高性價(jià)比的視覺(jué)解決方案。

　　01

　　SICK NOVA核心優(yōu)勢(shì)

　

　　1. 高度可擴(kuò)展

　　•支持 SICK 全系列 2D / 3D 視覺(jué)傳感器及激光掃描儀

　　•提供多級(jí)工具集（含 Deep Learning 工具）

　　•可通過(guò) SICK AppPool 獲取標(biāo)準(zhǔn)插件或定制插件

　　•基于 SICK AppSpace 實(shí)現(xiàn)個(gè)性化功能開(kāi)發(fā)

　　

　　2. 極致易用

　　•基于 Web 的操作界面，無(wú)需安裝軟件

　　•點(diǎn)擊式配置，快速上手

　　•內(nèi)置幫助功能，降低學(xué)習(xí)成本

　

　　3. 強(qiáng)大 AI 能力

　　•支持本地端與云端 Deep Learning

　　•覆蓋檢測(cè)、分類、識(shí)別、分割等多種任務(wù)

　　•少量樣本即可訓(xùn)練，快速落地

　　02

　　AI 工具全景解析

　　工具1：AI異常檢測(cè)工具(AI Anomaly Detection)

　　應(yīng)用場(chǎng)景：發(fā)現(xiàn)不可預(yù)測(cè)的缺陷

　

　　AI異常檢測(cè)工具可發(fā)現(xiàn)圖像中的異常情況，適用于缺陷不可預(yù)見(jiàn)的復(fù)雜應(yīng)用。該工具的應(yīng)用范圍是用于檢查表面、焊縫、膠珠或釬焊件以及注塑模具。

　　示教時(shí)只需要合格件圖像，該工具會(huì)返回“合格”或“不合格”的結(jié)果。在異常熱圖上顯示識(shí)別出的缺陷。

　　異常檢測(cè)工具可在設(shè)備上快速輕松地創(chuàng)建應(yīng)用，并可直接在設(shè)備上示教多達(dá) 100 張圖像。

　　工具2：AI分類工具(AI Classification)

　　應(yīng)用場(chǎng)景：對(duì)物體進(jìn)行分類/分揀

　

　　AI分類工具用于物體分類，適用于與可變形、可變、有機(jī)和反射物料相關(guān)的復(fù)雜分級(jí)和分類任務(wù)。除了不同物體的分類，該工具還有助于進(jìn)行安裝檢查和缺陷分級(jí)。該工具用所有級(jí)別的圖像進(jìn)行訓(xùn)練，并將圖像中一個(gè)點(diǎn)上檢測(cè)到的物體級(jí)別作為結(jié)果返回。

　　它支持在設(shè)備上進(jìn)行訓(xùn)練，實(shí)現(xiàn)快速簡(jiǎn)便的應(yīng)用設(shè)置。此外，該人工智能工具只需要少量的圖像，并且可以直接在設(shè)備上用多達(dá) 100 張圖像進(jìn)行訓(xùn)練。

　　AI Classification (dStudio) 支持使用 SICK dStudio 服務(wù)進(jìn)行訓(xùn)練，用于標(biāo)記、訓(xùn)練和評(píng)估，以創(chuàng)建一個(gè)優(yōu)化的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，在 Edge 設(shè)備上直接運(yùn)行經(jīng)過(guò)訓(xùn)練的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)時(shí)，獲得更高的測(cè)量精度和執(zhí)行速度。即使有大量圖像，該解決方案也能輕松進(jìn)行培訓(xùn)。

　　工具3：AI目標(biāo)識(shí)別工具(AI Object Detection)

　　應(yīng)用場(chǎng)景：查找、定位、分類并統(tǒng)計(jì)已知類型的物體數(shù)量

　　

　　AI目標(biāo)識(shí)別工具用于對(duì)物體搜索、計(jì)數(shù)和定位，所有這三項(xiàng)任務(wù)都可以通過(guò)同一工具完成。這種綜合功能非常適合完整性檢查等應(yīng)用。該功能確保在繼續(xù)生產(chǎn)過(guò)程或包裝過(guò)程之前，物體的位置正確、數(shù)量正確且無(wú)缺陷。此外，當(dāng)圖像中的物體數(shù)量變化或輕微重疊時(shí)，它也是優(yōu)選的解決方案。

　　AI目標(biāo)識(shí)別工具支持設(shè)備訓(xùn)練，適用于在所采集圖像中查找物體特點(diǎn)。該工具最多可訓(xùn)練 100 張圖像，非常適合計(jì)數(shù)應(yīng)用。結(jié)果顯示為所識(shí)別物體上的一個(gè)點(diǎn)。

　　AI目標(biāo)識(shí)別工具(dStudio) 支持使用 SICK dStudio 服務(wù)進(jìn)行訓(xùn)練，用于檢測(cè)（即查找）所采集圖像中的物體。由此檢測(cè)到的物體以邊界框的形式出現(xiàn)，邊界框表示物體的級(jí)別、大小和位置。

　　工具4：AI斑點(diǎn)檢測(cè)工具(AI Blob Finder)

　　應(yīng)用場(chǎng)景：以像素級(jí)精度查找、定位、分類并統(tǒng)計(jì)已知類型的物體數(shù)量

　

　　AI斑點(diǎn)檢測(cè)工具(dStudio)借助訓(xùn)練有素的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，利用實(shí)例分割技術(shù)檢測(cè)定義區(qū)域內(nèi)的物體并對(duì)物體計(jì)數(shù)。它支持測(cè)量物體的尺寸（長(zhǎng)度、寬度和面積），因此非常適合需要對(duì)物體計(jì)數(shù)、分揀、測(cè)量及定位的質(zhì)量管理應(yīng)用。

　　在實(shí)例分割中，能夠識(shí)別圖像中的所有物體，并逐像素將它們相互分離。通過(guò)這種方式，不僅可以識(shí)別出存在哪些物體（例如蘋果和梨），還能繪制出每個(gè)物體的輪廓——即使存在多個(gè)相互重疊的同類物體。

　　與AI目標(biāo)識(shí)別工具僅在物體周圍輸出邊界框不同，AI斑點(diǎn)檢測(cè)工具可為每個(gè)目標(biāo)生成像素級(jí)的精確分割蒙版，實(shí)現(xiàn)更高精度的識(shí)別與分析。該能力在物體高度重疊或邊界復(fù)雜的場(chǎng)景中尤為適用。同時(shí)，它還支持對(duì)微小裂紋、表面異常等細(xì)微缺陷進(jìn)行高精度尺寸測(cè)量，并可準(zhǔn)確統(tǒng)計(jì)各類物料的數(shù)量。

　　結(jié)語(yǔ)：

　　SICK NOVA將標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器視覺(jué)能力、先進(jìn)的 AI 技術(shù)與高度靈活的擴(kuò)展架構(gòu)融為一體，構(gòu)建出一個(gè)統(tǒng)一、高效且易于部署的工業(yè)視覺(jué)平臺(tái)。無(wú)論是基礎(chǔ)檢測(cè)還是復(fù)雜缺陷識(shí)別，用戶都可以通過(guò)簡(jiǎn)單配置快速落地應(yīng)用，并根據(jù)需求持續(xù)擴(kuò)展功能。在保障檢測(cè)精度與穩(wěn)定性的同時(shí)，顯著降低系統(tǒng)開(kāi)發(fā)與運(yùn)維成本，幫助企業(yè)加速實(shí)現(xiàn)更智能、更高效的自動(dòng)化生產(chǎn)與質(zhì)量控制。

　　SICK

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