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X射線激發系統
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垂直下照式X射線光學系統
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空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
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標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
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功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)
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裝備有安全防射線光閘
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二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
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準直器系統
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單準直器組件
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多準直器自動控制組件：最多可同時裝配6種規格的準直器
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圓形、矩形和多種規格尺寸準直器任選（紅色為常用的）：
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類型
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單位
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準直器規格
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圓形
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mil
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4
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6
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8
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12
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13
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20
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mm
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0.102
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0.152
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0.203
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0.305
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0.33
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0.508
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矩形
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mil
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1x2
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2x2
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0.5x10
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1x10
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2x10
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4x16
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mm
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0.025x0.05
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0.05x0.05
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0.013x0.254
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0.254x0.254
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0.051x0.254
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0.102x0.406
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測量斑點尺寸
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在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器)
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在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準直器)
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樣品臺尺寸
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最大610mm x 610mm x33mm
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最高測試產品高度
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33mm
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XY軸移動范圍
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標準：152.4 x 177.8mm<程控>
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Z軸程控移動高度
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43.18mm
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XYZ軸控制方式
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多種控制方式任選：
XYZ三軸程序控制；
XY軸手動控制和Z軸程序控制；
XYZ三軸手動控制
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樣品觀察系統
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高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。
50倍和100倍觀察系統任選。
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激光自動對焦功能
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可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
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計算機系統配置
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IBM計算機
佳能或愛普生彩色噴墨打印機
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分析應用軟件
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操作系統：Windows XP中文平臺
分析軟件包：SmartLink FP軟件包
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測厚范圍
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可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
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基本分析功能
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采用基本參數法校正；將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品；
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樣品種類：鍍層；
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可檢測元素范圍：Ti22 – U92；
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可同時測定5層/15種元素/共存元素校正；
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貴金屬檢測，如Au karat評價；
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材料和合金元素分析；
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材料鑒別和分類檢測；
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多達4個樣品的光譜同時顯示和比較；
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元素光譜定性分析。
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調整和校正功能
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系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
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測量自動化功能
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鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”
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多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式
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測量位置預覽功能
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激光對焦和自動對焦功能
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樣品臺程控功能
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設定測量點
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連續多點測量
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測量位置預覽(圖表顯示)
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統計計算功能
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平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
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任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
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數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
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數據庫存儲功能
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系統安全監測功能
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Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
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