可靠性試驗設備-飽和加速壽命試驗機概要：
主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障。
可靠性試驗設備-飽和加速壽命試驗機特點：
1.內箱材料采用SUS304不銹鋼;外箱材料采用雙面鍍鋅鋼板表面靜電噴塑處理。外觀采用簡約實用設計風格，具有耐用性和抗磨損性等特點
2.跨平臺控制系統可實現遠程監控、數據上拋,異常推送，手機程序監管及兼容MES數據交互
3.智慧型飽和蒸汽溫度值，人力控制裝置于飽和蒸汽壓力檢知
4.白金溫度傳感（PT-1OO型）感知精確溫度
4.棋置形圓形內箱結構設計，方便待測樣品取置與蒸汽沖擊隔離裝置
5.全自動真空清潔程序，減低試品污染
可靠性試驗設備-飽和加速壽命試驗機規格：
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型號
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J-PCT-40
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J-PCT-60
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J-PCT-80
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容積/L
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40
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60
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80
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整體尺寸
（W*H*D） cm
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900x1800x1120
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以圖紙為準
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以圖紙為準
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溫度范圍
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（RT+20）℃~250℃
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溫度控制范圍
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105～℃+150℃
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濕度范圍
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100%RH
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溫度上升時間
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100min （從常溫到120C且溫度到達85%RH的時間）
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溫度偏差
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≤±1.5℃（空載）
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溫度均勻度
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≤±1.5℃（空載）
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壓力波動均勻度
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±0.1kg
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電源
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AC220V或AC380V
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