將芯片用金剛石鋸切割成為小片，將有墨水標(biāo)記的芯片篩選出來。然后進(jìn)行連線封裝，即將CPU核心的信號連接到CPU封裝 引 腳上, 連線是一種高度自動化的過程，開始時將芯片固定到一個引腳框架上，連線設(shè)備將金絲壓焊在芯片周圍的焊盤上，金絲的另一端連接到纖細(xì)的金屬引腳上。連接芯片 的金絲非常纖細(xì)，1克黃金可以做成56米長的金絲。最后將硅晶片封入一個陶瓷的或塑料的封殼中，防止環(huán)境對它的危害（如圖1所示）。
圖1 CPU的引線
封裝后的CPU需要進(jìn)行工作頻率標(biāo)定測試，加工質(zhì)量好的CPU被標(biāo)定為髙頻率CPU封裝，一些工作狀態(tài)不穩(wěn)定的CPU降低工作頻率再進(jìn)行標(biāo)定。然后采用激光刻蝕工藝標(biāo)記公司名稱、版權(quán)、類型、速度、工作電壓、批號等參數(shù)。最后一件工作是包裝出廠。
芯片測試 技術(shù)
對CPU核心部分進(jìn)行測試的目的是，檢査電路是否能夠按照設(shè)計者的要求那樣正確工作。芯片測試的另一個目的是確定電路失效的原因與部位。但是集成電路的可測試性往往與電路的復(fù)雜程度成反比。一個包含了幾千萬甚至上億個晶體管的CPU系統(tǒng)，測試難度是可想而知的。
CPU芯片的測試過程包括：測試碼生成、測試驗(yàn)證和測試設(shè)計三個方面。測試碼是驗(yàn)證電路的一組或幾組測試信號。測試驗(yàn)證往往是通過故障模擬來進(jìn)行的。測試設(shè)計是添加 適當(dāng)?shù)倪壿嬰娐罚岣邷y試的效率。
CPU 的測試方式包含：功能測試和完全測試。功能測試是對芯片的運(yùn)算功能和邏輯功能進(jìn)行測試。在CPU批量生產(chǎn)階段，通常采用功能測試來提髙測試效率。完全測試 指對芯片的全部狀態(tài)和功能進(jìn)行測試。在CPU研制階段，為了分析電路中可能存在的問題， 因此往往對CPU進(jìn)行全面測試。
為了降低測試的難度，往往將電路分為一個個組成單元，然后分別對每個單元的各個節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測試。
造成電路失效的原因很多，如芯片材料微觀缺陷、帶電粒子的污染、接觸區(qū)接觸不良、金屬線路開路等。芯片測試 時不可能按照這些失效的原因一個一個地去查找，而只能對失效造成的結(jié)果一電路中的信號故障進(jìn)行測試，即只能測試可見的信號錯誤（如圖2所示）。
圖2 CPU測試[dt_gap height="5" /]CPU測試 電路盡可能少。
CPU內(nèi)部自測試技術(shù)
目 前的CPU內(nèi)部都設(shè)計有自測試電路，它們集成在CPU內(nèi)部。這種測試電路有兩種工作模式，一種是正常工作模式，另外—種是自測試模式。在正常工作模式下， 自測試電路被禁止。CPU測試電路需要解決三個問題：隔離、控制和觀察。隔離的目的是防止測試邏輯對正常邏輯產(chǎn)生影響。控制是為了使測試邏輯有序地工作， 完成測試任務(wù)。觀察是由比較邏輯組成，作用是監(jiān)視CPU測試 結(jié)果。
